一种精密控温老化测试设备及其测试方法

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一种精密控温老化测试设备及其测试方法
申请号:CN202511079127
申请日期:2025-08-02
公开号:CN121027572A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种精密控温老化测试设备及其测试方法,包括电控箱体和测试箱体,该测试箱体内安装有测试支撑架,该测试支撑架上安装有若干老化测试板,该老化测试版包括测试电路基板和固定安装在测试电路基板上的若干老化测试模块,该老化测试模块包括测试底座和加热控制模块,该测试底座上固定开设有载料槽,该加热控制模块包括外壳体,第一电路板,第二电路板和测温传感器,本发明通过多个独立的模块化老化测试模块实现单个芯片的独立控温老化测试,并将加热电路与控制电路分隔设置,提高测试电路的使用寿命。
技术关键词
老化测试设备 精密控温 测试电路基板 老化测试板 测试底座 测试模块 测试箱体 电路板 测温传感器 电控箱体 测试方法 芯片 信息处理模块 耐高温隔热材料 高温老化测试 控制通信接口 温度控制模块 接触点