光学检测系统和测序系统

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光学检测系统和测序系统
申请号:CN202511082170
申请日期:2025-08-01
公开号:CN120871419A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种光学检测系统和测序系统,光学检测系统包括沿光轴排列的物镜、二向色镜以及相机;还包括激发光源件,激发光源件用于发射不同波段的激光激发样本产生不同波段的荧光信号;还包括位于二向色镜与相机之间的滤片组件,滤片组件包括至少两个带通滤光片以及摆动机构;其中,至少两个带通滤光片可组合成与每个荧光信号对应的滤光通道;摆动机构用于在激发样本产生不同波段的荧光信号时,摆动至少一个带通滤光片组合成与该荧光信号对应的滤光通道。在上述技术方案中,通过采用滤片组件中的带通滤光片与摆动机构的配合,实现对对应荧光中的杂光进行过滤,从而提高了检测的准确性,降低了串扰的风险。
技术关键词
光学检测系统 滤光片 摆动机构 测序芯片 荧光 存储容器 测序系统 二向色镜 相机 液路系统 卡箍结构 样本 计算机系统 滤片 光学成像系统 信号 文库 通道 物镜