一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法
# 热门搜索 #
大模型
人工智能
openai
融资
chatGPT
验证码登录
×
发送
登录即代表您已同意AITNT
用户协议
和
隐私政策
登录
登录成功后会自动刷新界面
AITNT公众号
AITNT APP
AITNT交流群
搜索
未登录
首页
AI中心
退出
首页
AI资讯
AI技术研报
AI监管政策
AI产品测评
AI商业项目
AI产品热榜
AI 源力市场
寻求报道
一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法
申请号:
CN202511088634
申请日期:
2025-08-05
公开号:
CN120992711A
公开日期:
2025-11-21
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法,包括:采集模块,用于同步采集光学信号和电化学信号;判断模块,用于实时计算光学信号和电化学信号的信噪比并触发抗干扰模式;互校验模块,用于在抗干扰模式下对光学信号和电化学信号进行一致性验证,获得验证结果;补偿模块,用于根据验证结果对信号进行动态补偿;融合模块,用于将补偿后的光学信号与电化学信号进行数据融合并输出检测结果。本发明通过双模校验使强干扰场景误检率降低,抗干扰能力提升;动态补偿算法替代人工校准,检测效率大大提升。
技术关键词
抗干扰模式
抗干扰检测系统
CMOS图像传感器
纳米孔芯片
信号
电化学特征
LED光源
抗干扰检测方法
校验模块
信噪比
ROI图像
校准
SPI总线
光电
滤光片
补偿算法
层叠结构
动态