一种波片相位延迟曲线和相关光谱仪穆勒矩阵元同测方法

本发明公开了一种波片相位延迟曲线和相关光谱仪穆勒矩阵元同测方法。方法基于角扫描原理的测量装置获得四组偏振态条件的光谱仪CCD计数值的数据和数据组，分别结合包含待测波片相位延迟量和相关光谱仪穆勒矩阵元的非线性回归模型函数，通过非线性回归计算可分别得到待测波片相位延迟曲线和关光谱仪穆勒矩阵元曲线。本发明测试方法涉及硬件成本低，核心光学器件仅有旋转起偏器和光谱仪；光路简洁，便于光路调试和光路集成，便于仪器化；四次条件设置的测量，方法简单便捷；方法考虑了非理想状况，并且测试结果由大量数据处理得到，测试结果精度高；一次测量可以得到波片相位延迟曲线和相关光谱仪穆勒矩阵元。