一种金属基涂层性能检测方法及系统
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一种金属基涂层性能检测方法及系统
申请号:
CN202511103586
申请日期:
2025-08-07
公开号:
CN120778870A
公开日期:
2025-10-14
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及一种金属基涂层性能检测方法及系统,其方法包括:输出用于控制涡流探头及磁阻传感器同步工作的测试指令;获取所述涡流探头输出的涡流响应信号和所述磁阻传感器输出的磁导率响应信号;根据厚度及磁导率间的影响关系、所述涡流响应信号和所述磁导率响应信号确定金属基涂层的厚度测量值及磁导率测量值。本发明可以准确地测量金属基涂层的厚度和磁导率。
技术关键词
涂层性能检测方法
磁阻传感器
信号特征值
涡流探头
反演模型
三维物理模型
性能检测系统
神经网络模型
理论
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