晶圆表面处理工艺推荐方法、装置、设备和存储介质

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晶圆表面处理工艺推荐方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202511105645
申请日期:2025-08-07
公开号:CN120611277B
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请提出了一种晶圆表面处理工艺推荐方法、装置、设备和存储介质,涉及半导体制造技术领域,包括:获取目标晶圆的表面物化特性参数,并对表面物化特性参数进行预处理,得到目标物化特性参数;将目标物化特性参数输入预训练的单隐藏层神经网络模型,得到目标晶圆在各工艺参数方面的初步推荐参数;将目标物化特性参数和初步推荐参数拼接后共同输入至基于注意力机制的Transformer编码器中,利用多头自注意力机制建模输入特征间的复杂耦合关系,提取深度表达以输出目标推荐参数。通过上述方法可以实现目标晶圆的表面物化特性参数到工艺参数之间的非线性映射,从而可以实现晶圆等离子体表面处理工艺参数的高效、精确、自动化推荐。
技术关键词
表面处理工艺 推荐方法 长短期记忆神经网络 注意力机制 神经网络模型 机械特性参数 晶圆 误差预测 编码器 融合多源特征 校准 计算机存储介质 存储计算机程序 序列 嵌入特征 推荐装置 粗糙度 非线性 处理器