一种OLED显示屏表面缺陷检测方法及系统

本发明公开了一种OLED显示屏表面缺陷检测方法及系统，涉及显示器件表面检测技术领域，该方法包括：根据OLED显示屏的不同工序环境，获取工序环境特征与表面缺陷的光学特性参数之间的对应关系，建立缺陷物理特性随工序变化的动态关联数据集并提取工序关联正则化参数；基于动态关联数据集，提取当前工序环境下多模态缺陷特征，通过特征融合和降维处理构建缺陷特征表征模型，并根据缺陷对显示性能的影响程度评估严重等级；根据严重等级评估结果，生成最终检测报告。本发明具备自适应检测多工序环境、更全面测量缺陷物理特性的优点，进而解决现有技术中OLED显示屏表面缺陷的检测准确率低、缺陷严重程度评估不准确的问题。