软件缺陷预测方法及相关装置、设备和存储介质

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软件缺陷预测方法及相关装置、设备和存储介质
申请号:CN202511133153
申请日期:2025-08-13
公开号:CN120994559A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种软件缺陷预测方法及相关装置、设备和存储介质,其中,软件缺陷预测方法包括:基于参考软件的程序代码,提取得到参考软件的第一特征集;其中,第一特征集包含参考软件关于若干预设特征类别的代码特征表示;基于参考软件的第一特征集,度量得到若干预设特征类别分别在参考软件的信息熵;基于相同预设特征类别分别在不同参考软件的信息熵,确定得到对应预设特征类别的权重因子;基于由待测软件的程序代码所提取到的第二特征集,预测得到待测软件的缺陷检测结果;其中,第二特征集包含待测软件关于若干预设特征类别的代码特征表示及其权重因子。上述方案,能够提升特征选择的客观性,以提升软件缺陷预测的准确性和泛化能力。
技术关键词
软件缺陷预测方法 代码特征 待测软件 信息熵 项目 超参数 语义图谱 因子 度量 软件体系结构 标签 样本 特征提取模块 嵌套结构 特征选择 程序 处理器