芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质

本发明公开了一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及数据处理技术领域，包括：获取待测芯片在目标场景下对应的多个待测模块中各个待测模块的编码信息；基于编码信息及待测模块之间的关联信息，对待测模块进行编码，得到初始种群；基于初始种群中各个初代个体的适应度评分更新初始种群，得到目标种群；根据目标种群在原始测试平台的约束信息生成测试激励，并基于测试激励得到待测芯片的当前测试结果；若当前测试结果及测试激励在原始测试平台的原始测试结果均符合预期，则生成待测芯片在目标测试场景下问题定位信息。解决了芯片仿真测试时问题定位效率低的问题，达到提高问题定位效率的技术效果。