一种芯片导向治具、测试插座及测试装置

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一种芯片导向治具、测试插座及测试装置
申请号:CN202511134029
申请日期:2025-08-14
公开号:CN120722169B
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种芯片导向治具、测试插座及测试装置,芯片导向治具用于与测试插座配合进行芯片定位安装,芯片导向治具包括基体、导向结构和第一对准补偿结构,导向结构设置于基体,导向结构限定出引导芯片进入测试插座的导向通道,导向结构被设置为能够相对基体在第一方向和第二方向中的至少一者上移动,第一对准补偿结构设置于导向结构,第一对准补偿结构用于调整导向结构相对测试插座的位置。本公开中,第一对准补偿结构能够对导向结构在第一方向和/或第二方向上的位置进行自动纠偏,使导向结构的导向通道与测试插座对准,保证芯片通过导向通道后能够被精准装载至测试插座中的正确位置,以与测试插座形成良好接触,提升测试成功率和效率。
技术关键词
补偿结构 芯片 安装结构 导向斜面 基体 滚动结构 通道 槽体 滚珠 弹簧 夹持机构 锥形 作用力 物理 解锁