一种基于硼硅酸玻璃晶圆的刻蚀深槽的方法
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一种基于硼硅酸玻璃晶圆的刻蚀深槽的方法
申请号:
CN202511139055
申请日期:
2025-08-14
公开号:
CN120987570A
公开日期:
2025-11-21
类型:
发明专利
摘要
本发明属于硼硅酸玻璃深槽技术领域,尤其是一种基于硼硅酸玻璃晶圆的刻蚀深槽的方法。本发明包括以下步骤:S1、在透明衬底的非刻蚀面蒸发一层钛金属膜;S2、在透明衬底的刻蚀面溅射一层0.6~1um的金属掩膜;S3、使用光刻和刻蚀形成图形化的掩膜,并保留光刻胶;S4、通过掩膜和刻蚀形成深槽,并去除钛金属膜和金属掩膜。本发明能保证传统芯片制造设备能识别硼硅酸玻璃晶圆,并对其进行深槽工艺刻蚀。
技术关键词
硼硅酸玻璃
钛金属膜
金属掩膜
光刻胶
衬底
深槽工艺
速率
晶圆
芯片