芯片功能安全设计自动化验证方法、装置、设备及介质

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芯片功能安全设计自动化验证方法、装置、设备及介质
申请号:CN202511146539
申请日期:2025-08-15
公开号:CN120671607B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片功能安全设计自动化验证方法、装置、设备及介质,涉及芯片设计技术领域,该方法包括读取插错仿真需求表得到仿真测试用例并运行,产生FIT仿真所需的激励,并基于仿真测试用例运行情况剔除异常仿真测试用例;检测FIT仿真环境文件,并进行FIT仿真验证环境的生成、FIT仿真流程的制定以及根据FIT仿真类型匹配所需激励;执行FIT仿真,基于FIT仿真结果生成FIT仿真结果报告或者调整FIT仿真过程再次执行FIT仿真。本申请通过制定标准化、可量化、可统计、高效定位的插错仿真流程,可以有效减少人工工作量,提升工作效率,避免错误发生。
技术关键词
自动化验证方法 自动化验证装置 仿真环境 验证设备 接口 芯片设计技术 报告 高层次 人工工作量 可读存储介质 子系统 处理器 对象 程序 模块 命令 存储器 计算机 定义