一种基于单片机的智能化老炼测试系统与方法
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一种基于单片机的智能化老炼测试系统与方法
申请号:
CN202511147431
申请日期:
2025-08-15
公开号:
CN120928161A
公开日期:
2025-11-11
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及一种智能化芯片老炼测试系统及方法。本发明系统通过集成电源管理、多通道信号采集、冗余控制及远程通信,实现对多片老炼芯片的高精度动态监测与智能化管理。系统核心包括:电源供电模块、信号采集模块、核心处理单元及若干个外围设备接口;本发明方法通过分阶段上电时序控制、双冗余校验、动态负载模拟及云端数据同步,显著提升测试可靠性与效率,适用于半导体器件的高温老化筛选与质量评估,有效降低生产成本并支持生产工艺优化。本发明属于电子测试技术领域。
技术关键词
老炼测试
电源供电模块
外围设备接口
降压模块
系统控制板
信号采集模块
处理单元
芯片
单片机
肖特基二极管
信号转接板
云端数据同步
上电时序控制
低压差线性稳压器
LED指示灯
时钟电路
核心
开关控制单元
摄像头接口