一种多引脚芯片上料测试工装

本发明公开了一种多引脚芯片上料测试工装，涉及芯片测试领域，包括操作台，所述操作台的前侧固定连接有调节架，所述调节架的一侧设置有电机，所述电机的输出端设置有螺纹杆，所述调节架的内部设置有移动块，所述移动块的内部开设有第一螺纹孔，所述移动块的下端设置有滚珠，所述移动块的上端固定连接有短块；本发明的优点在于：通过电机、移动块、螺纹杆、电动推杆、顶板、真空泵、吸盘等组件能够对多组芯片的同时上料，避免了工作人员逐一摆放，大大提高了测试的效率；通过螺栓、转轮、转环、连接圈、固定块等组件能够对限位夹的位置进行调节，进而能够实现对料盒的限位，有效避免了在上料时出现晃动，同时也能够提升整个上料环节的质量。