面型指标测量模型构造方法、发育情况评估方法及系统

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面型指标测量模型构造方法、发育情况评估方法及系统
申请号:CN202511158056
申请日期:2025-08-19
公开号:CN120726683B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本申请涉及面型矫正的技术领域,尤其是涉及一种面型指标测量模型构造方法、发育情况评估方法及系统,其包括:对侧脸图像进行关键点标注以制作标准侧脸图像数据集;基于若干关键点生成不同标准角度对应的各关键点之间的结构关系,基于结构关系生成各关键点所对应的包含椭圆形热图的优化高斯热图;引入GAT层以将关键点作为节点,将各关键点之间的结构关系作为边,计算各节点与邻居节点之间的注意力权重以进行全局空间优化;基于MSE损失函数和角度损失函数对优化高斯热图与真实热图进行监督学习以获取训练好的面型指标测量模型。本申请具有实现对侧脸关键点的准确定位以提高发育角度的计算准确性的效果。
技术关键词
模型构造方法 关键点 共线 关系 面部软组织 节点 指标 坐标 注意力 椭圆形 邻居 长轴 评估系统 定义 短轴 标签 图像 标志 图片 两点