一种键合装置及键合方法
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一种键合装置及键合方法
申请号:
CN202511162577
申请日期:
2025-08-19
公开号:
CN121011541A
公开日期:
2025-11-25
类型:
发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种键合装置及键合方法,键合装置包括:键合头主体,用于吸附目标芯片;压电控制层,位于所述键合头主体和所述目标芯片之间;所述压电控制层,包括多个压电阵列点,用于基于所感受到的压力,产生每一所述压电阵列点对应的反馈控制信号;其中,所述压电阵列点基于所述反馈控制信号实现沿第一方向的结构形变,所述第一方向垂直于所述目标芯片的有源面,通过在键合头设置压电控制层结构,基于感受到的压力控制压电阵列点的形变,提高键合界面的应力均匀性,降低形成气泡的风险,提高键合质量。
技术关键词
键合装置
反馈控制信号
真空
芯片
阵列
键合方法
补偿算法
控制层结构
界面
压力
压电材料
电信号
介质
气体
气泡
应力
风险
电流
电压