一种多场耦合分析的电磁轨道损伤检测方法及系统

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一种多场耦合分析的电磁轨道损伤检测方法及系统
申请号:CN202511165750
申请日期:2025-08-20
公开号:CN120724711B
公开日期:2025-12-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种多场耦合分析的电磁轨道损伤检测方法及系统,涉及电磁轨道发射装置技术领域,包括:获取仿真的枢轨回路脉冲电流、电枢力学参数和电枢运动学参数,导入电磁热多物理场耦合模型中,得到场‑路耦合模型;获取在多物理场耦合下的仿真过程中,沿枢轨接触界面边界和电枢凹槽内侧边界的电流密度和温度的分布;根据不同电枢放置初始位置下,电流密度和温度的变化,确定电枢放置的最优初始位置,并根据设定的不同电磁发射器轨道材料下电流密度和温度的变化,确定最优轨道材料;搭建电磁轨道发射系统模拟实验平台,在不同脉冲电流峰值和发射次数下,对轨道不同位置处的表面损伤进行测试,明晰不同工况下轨道表面累积磨损与烧蚀损伤特性。
技术关键词
轨道损伤检测方法 多场耦合分析 电枢 电磁轨道发射系统 电磁发射器 电磁驱动力 等效电路模型 模拟实验平台 发射装置 回路 力学 参数 损伤检测系统 表面微观形貌 粗糙度 物理 界面 加速度