摘要
本发明公开一种芯片系统测试需求分析方法、装置及介质，涉及芯片系统测试技术领域，针对目前在进行芯片系统测试需求分析时所存在的分析不全面的问题，提供一种芯片系统测试需求分析方法。利用可视化工具以四层逐级分解的测试分析方式辅助测试人员完成测试分析过程，隔离不同测试人员的水平、经验差异，提升测试分析的质量。此外，本方法还可以指导测试人员在每一层需求分析时输入相应的描述信息，使得获取到一次测试分析过程中需求文档所需的所有必要元素，避免出现遗漏。并且基于获取的描述信息自动生成测试用例描述，作为本次测试项目的需求文档输出，可以有效地避免人工输出需求分析文档而出现的遗漏等问题。
