基于积分时间调整的红外焦平面阵列非均匀性校正方法

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基于积分时间调整的红外焦平面阵列非均匀性校正方法
申请号:CN202511176207
申请日期:2025-08-21
公开号:CN120992035A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本申请涉及光学平面校正,公开了一种基于积分时间调整的红外焦平面阵列非均匀性校正方法,包括:对红外焦平面阵列的每个像素,分别建立表征积分时间、辐射通量与探测器输出响应的关联关系的非线性响应模型;根据当前场景的辐射分布特征及各像素的独立响应特性,通过自适应优化算法为每个像素分别确定最优积分时间;基于探测器的实际输出与非线性响应模型输出的偏差,对各像素的非线性响应模型的参数进行动态更新;基于最优积分时间补偿不同像素间的响应非线性差异,并基于两点校正公式对补偿后的信号做进一步线性补偿。采用本申请,解决了传统校正方法在非线性校正、场景适配、漂移适应等方面的缺陷,有效提高了红外焦平面阵列的成像质量。
技术关键词
红外焦平面阵列 非线性 像素 探测器 预测输出值 定标数据 输出灰度值 动态更新 参数 分布特征 偏差 粒子群优化算法 平面校正 辐射源 配置算法