SEI厚度获得方法、装置、存储介质和程序产品
# 热门搜索 #
大模型
人工智能
openai
融资
chatGPT
验证码登录
×
发送
登录即代表您已同意AITNT
用户协议
和
隐私政策
登录
登录成功后会自动刷新界面
AI新闻日报
AITNT公众号
AITNT交流群
搜索
未登录
首页
AI中心
退出
首页
AI资讯
AI技术研报
AI监管政策
AI产品测评
AI商业项目
AI产品热榜
AI 源力市场
寻求报道
SEI厚度获得方法、装置、存储介质和程序产品
申请号:
CN202511181044
申请日期:
2025-08-22
公开号:
CN120673068B
公开日期:
2025-11-04
类型:
发明专利
摘要
本公开提供了一种SEI厚度获得方法、装置、存储介质和程序产品。该SEI厚度获得方法包括:将包含SEI区域的图像输入到预先训练的实例分割模型,以通过实例分割模型从图像中识别出SEI区域;获得图像中的标尺数值和标尺直线,以建立图像中的像素与物理尺寸的对应关系;对从图像中识别出的SEI区域的轮廓进行曲线拟合,以获得SEI区域的轮廓曲线;和基于轮廓曲线以及像素与物理尺寸的对应关系,获得SEI区域的厚度。本公开可以提高SEI区域厚度分析的效率和准确率。
技术关键词
实例分割模型
轮廓曲线
标尺
图像
像素
固体电解质界面
物理
直线
边缘检测算法
关系
尺寸
计算机程序产品
数值
标注工具
处理器
指令
存储器