一种高精芯片的测试优化方法、设备及存储介质

本发明公开了一种高精芯片的测试优化方法、设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域，包括如下步骤：采集CP测试中各个测试项目的测试时间以及测试通过情况，得到每个测试项目的基本测试数据；根据每个项目的基本测试数据进行项目相关性分析，得到每个项目的相关项目数据；基于每个项目的基本测试数据以及相关项目数据进行项目必要性分析，得到测试项目稳定数据；根据各个测试项目的测试时间以及测试项目稳定数据以及对CP测试的测试项目进行优化；本发明用于解决现有的芯片测试技术在对CP测试进行优化时，无法在保障芯片质量的前提条件下，通过对测试项目的分析，降低芯片测试时间的同时，减少芯片测试成本的问题。