超低温加工设备的温度分析方法、装置、设备及介质
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超低温加工设备的温度分析方法、装置、设备及介质
申请号:
CN202511197459
申请日期:
2025-08-26
公开号:
CN120724860A
公开日期:
2025-09-30
类型:
发明专利
摘要
本申请提供了一种超低温加工设备的温度分析方法、装置、设备及介质,该方法包括:根据预设的加工参数构建热流预测模型,通过数值计算方法对热流预测模型进行求解,得到热流分布图谱;将热流分布图谱和预设的加工参数输入预置的LSTM模型,生成热分配比参数;根据热流分布图谱和热分配比参数构建刀具的温度场体素矩阵;对温度场体素矩阵进行扫描,得到热流异常溯源报告,热流异常溯源报告用于调整预设的加工参数。
技术关键词
温度分析方法
材料热物性参数
矩阵
图谱
数值计算方法
网格
节点
三维温度场
温度监测装置
报告
刀具
热力学第一定律
数值迭代算法
空间坐标信息
分布特征
热源
强度
序列
可读存储介质