一种基于设备故障分析数据的试验设备筛选方法、装置、电子设备及存储介质

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一种基于设备故障分析数据的试验设备筛选方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202511202849
申请日期:2025-08-27
公开号:CN120707087A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于设备故障分析数据的试验设备筛选方法、装置、电子设备及存储介质,其中,涉及的方法包括建立历史数据库、预测故障时间段和预测维修时长、筛选出优先分配执行任务的试验设备;涉及的装置,包括创建模块、生成模块、采集模块和筛选模块。本发明还涉及一种电子设备及存储介质。利用本发明涉及的一种基于设备故障分析数据的试验设备筛选方法、装置、电子设备及存储介质,能够解决自动排产没有考虑对应试验设备在任务执行过程中可能发生故障的情况,给试验任务的正常执行带来了一定的风险,可能导致试验任务执行成功率的降低,试验任务执行成本的提升,进而造成企业一定的经济损失和物力的浪费的问题。
技术关键词
试验设备 设备故障分析 时间段 筛选方法 构建预测模型 机器学习算法 电子设备 故障报警信息 设备状态数据 可读存储介质 声音传感器 模块 气体传感器 处理器 数值 图像传感器 光传感器 筛选装置 湿度传感器