一种基于半导体安装的定位检测装置

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一种基于半导体安装的定位检测装置
申请号:CN202511226934
申请日期:2025-08-29
公开号:CN121035016A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于半导体安装的定位检测装置,属于半导体检测技术领域。该装置包括用于输送托盘的半导体输送线,所述半导体输送线输出端两侧均设置有半导体组装线,所述半导体输送线与半导体组装线交汇处配合设置有用于推动托盘上移的升降机构,所述半导体组装线上配合设置有支撑架,所述支撑架内顶部固定设置有用于将升降机构输出端的托盘送入半导体组装线上的推送机构。本发明在使用时,通过双线输送与高效分料操作,快速完成托盘输送。测试机构的第二自动升降装置带动探板下移,探针与半导体芯片检测点接触,实现快速检测,且通过半导体组装线带动托盘移动,可循环检测整板芯片,从而缩短了检测时间,提高了半导体芯片检测的整体效率。
技术关键词
自动升降装置 定位检测装置 组装线 输送线 测试机构 线性运动组件 半导体芯片 推送机构 升降机构 输送托盘 半导体检测技术 输出端 检测托盘 光电传感器 传动杆 线状 旋转轴 探针