一种多光谱测温的温度与发射率联合反演方法

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一种多光谱测温的温度与发射率联合反演方法
申请号:CN202511241260
申请日期:2025-09-02
公开号:CN120740772B
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
一种多光谱测温的温度与发射率联合反演方法,涉及高温目标的非接触测温领域。为解决现有技术中存在的,现有技术中存在无法在无需预先已知发射率条件下,实现发射率联合反演的缺陷,本发明提供的技术方案包括:建立多光谱测温模型,构建各通道下的温度计算模型,输出用于优化的多个子目标函数;构建用于优化求解的加权目标函数;输出全局最优解作为初始点;构建带有惩罚函数的优化模型,输出目标温度与光谱发射率;基于上述反演结果进行仿真验证,通过设定典型发射率曲线和真实温度进行误差评估,输出算法精度指标。适用于高温目标在复杂光谱环境下的非接触式高精度温度与发射率联合测量工作中。
技术关键词
联合反演方法 发射率 多光谱 Hessian矩阵 序列二次规划算法 粒子群优化算法 测温 拟牛顿法 计算机储存介质 通道 罚函数法 反演装置 极值 计算机程序产品 典型 曲线 指标 模块