膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统
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膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统
申请号:
CN202511243314
申请日期:
2025-09-02
公开号:
CN120760613A
公开日期:
2025-10-10
类型:
发明专利
摘要
本申请实施例涉及光伏技术领域,并提供一种膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统。该膜厚测量方法包括:获取一组参考薄膜的参考厚度数据;获取在预设照明条件下,与所述参考厚度数据对应的参考RGB颜色值;基于所述参考厚度数据和所述参考RGB颜色值,建立膜厚与RGB颜色值之间的映射模型;获取在所述预设照明条件下,待测薄膜的待测RGB颜色值;以及基于所述待测RGB颜色值和所述映射模型,确定所述待测薄膜的厚度。
技术关键词
RGB颜色值
膜厚测量方法
插值算法
光学成像设备
薄膜
可读存储介质
椭偏仪
照明
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