一种密码算法的验证方法、装置、设备及可读存储介质

本发明公开了一种密码算法的验证方法、装置、设备及可读存储介质，应用于芯片技术领域，包括：确定目标逻辑芯片的动态可重构区；目标逻辑芯片为实现数字逻辑功能的芯片；目标逻辑芯片包括静态控制区和动态可重构区；动态可重构区中包括预设数量的密码算法容器，预设数量大于1，且动态可重构区中的密码算法能够进行重配置；获取动态可重构区中各个密码算法容器对应的密码算法；基于静态控制区对所有密码算法同时进行功能正确性验证，得到每个密码算法对应的功能验证结果。本发明通过动态可重构区实现密码算法模块的热插拔式更换，重配置时间从分钟级降至亚秒级，多个可重构分区可同时测试多个密码算法，故可以提高验证的灵活性和验证的效率。