一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法

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一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法
申请号:CN202511248812
申请日期:2025-09-03
公开号:CN120782640B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本发明属于磁粒子成像领域,具体涉及了一种应用于磁粒子成像的快速系统矩阵校准算法,旨在解决现有技术中存在无法同时兼顾系统矩阵快速校准与高分辨率成像的问题。本发明包括:获取公开数据集,筛选高信噪比系统矩阵并转换为三维立方体格式,按扫描参数划分为训练集与测试集;通过实测采集磁纳米粒子点状仿体在扫描/激励磁场下的频域响应,经移动采样及频点筛选生成实测系统矩阵集合;构建磁粒子浓度分布矩阵,经数值仿真及频点筛选生成仿真系统矩阵集合;构建深度学习模型,包括图像编码单元、特征处理单元和图像重建单元;将待校准矩阵输入训练完成的模型,输出校准后的高分辨率系统矩阵。该方法显著提升校准效率并保持成像分辨率。
技术关键词
校准算法 高分辨率系统 矩阵 深度学习模型 磁粒子浓度 图像重建 磁粒子成像 高频特征 磁纳米粒子 输入系统 实测系统 图像编码 仿真系统 数值仿真 上采样 生成高分辨率 处理单元