摘要
本发明涉及岩石薄片检测技术领域，具体公开了一种多台原位测试仪器联用的岩石薄片定位检测方法，包括如下步骤：样品准备，将待检测的岩石样品进行切片处理，并且将原始样品横切为两部分，形成横切剖面I和Ⅱ，两者位置、大小完全对应，并且，两剖面平行度误差≤50μm，面积差异≤1％；仪器校准，设计通用样品台，并且，适配SEM、AFM、拉曼光谱仪和微区X射线荧光设备，将多台原位测试仪器进行校准；采用电子束诱导沉积的铂和碳纳米颗粒标记(精度＜100nm)，通过原子级结合技术固定于薄片边缘，相比传统微米级标记(误差＞1μm)，定位精度提升10倍以上，可精准匹配TEM和SEM仪器的纳米级视野。
