摘要
本发明公开了一种芯片管理方法、系统及存储介质,属于芯片管理技术领域。方法包括以下步骤:S1:将芯片和晶圆的管理数据录入数据库;S2:将测试数据与芯片的ID进行绑定并标注测试条件然后导入数据库;S3:在参数界面选择参数组,并筛选测试频率,然后动态堆叠生成管理曲线图。本发明对数据进行了有效管理,摈弃了传统的、笨重的、复杂的本地存储数据文件的方式,进一步防止文件的丢失。方便用户对数据进行查找和提取,能够快速检索所需数据,节省查找时间,提升了工作效率。对研发人员来说,曲线图的生成和下载功能,为研发人员提供了更好的数据分析平台,节省了数据处理步骤。