一种制冷型红外探测器低温背景性能测试的装置及方法
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一种制冷型红外探测器低温背景性能测试的装置及方法
申请号:
CN202511256589
申请日期:
2025-09-04
公开号:
CN120992037A
公开日期:
2025-11-21
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种制冷型红外探测器低温背景性能测试的装置及方法,通过设置隔离盘,并在隔离盘上开设小孔,连通冷罩内部和密封腔体,通过抽真空减少空气中的热传导介质,并通过设置冷罩为外层,冷屏为内层的双层结构,有效屏蔽制冷机运行中的热辐射,通过设置第二挡板屏蔽通过隔离盘上的小孔向冷罩内传导的杜瓦自身和制冷机运行过程中的热辐射,并通过黑化层吸收热辐射,使本发明在测试过程中能达到更低的温度,减少热辐射带来的影响,提高测试的准确性。
技术关键词
制冷型红外探测器
制冷机
密封腔体
杜瓦
真空泵
芯片
小孔
性能测试装置
热传导介质
环状
杯状结构
包裹结构
双层结构
壳体
抽真空
电源
空气