一种芯片AOI检测设备

本发明涉及产品检测的技术领域，其具体涉及一种芯片AOI检测设备，该检测装置包括设备承载台、移动机构、纵向移动件、横向移动件以及翻转机构；操作人员利用移动机构和纵向移动件的配合将抓夹设备移动至所需区域后，利用转运设备将芯片移动至抓夹区域抓夹，之后继续通过高速摄像机连续拍摄芯片表面，之后继续利用翻转机构翻转芯片的平面，在翻转过程中高速摄像机可有效拍摄芯片的多组芯片平面以及斜面的斜向裂纹，提高检测精度，同时可对芯片全部展示面进行快速的翻转拍摄，具有较好的实用性以及经济性，有益于设备的推广以及使用。