集成电路电磁敏感区域定位方法、装置、设备和系统

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集成电路电磁敏感区域定位方法、装置、设备和系统
申请号:CN202511277709
申请日期:2025-09-09
公开号:CN120763549B
公开日期:2025-12-30
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种集成电路电磁敏感区域定位方法、装置、设备和系统。方法包括:获取目标集成电路对应的空间坐标网格和目标实验条件;将空间坐标网格中各坐标点的目标实验条件输入预设的故障预测模型,得到空间坐标网格对应的敏感度矩阵,故障预测模型是根据历史电磁故障注入实验过程中的实验数据进行训练得到的,实验数据包括历史实验条件以及结果数据,历史实验条件包括历史脉冲功率、历史脉冲时延和历史注入位置坐标;根据敏感度矩阵,生成目标集成电路对应的敏感度热力图。采用本方法能够对目标集成电路表面的电磁敏感区域进行直观、清晰、全面的定位。
技术关键词
故障预测模型 敏感度矩阵 热力图 多项式特征 网格 计算机设备 时延 电磁 非线性特征 定位方法 测试设备 交互特征 脉冲 集成电路表面 坐标点 数据获取模块 参数