一种实现芯片测试的方法及系统

本发明公开了一种实现芯片测试的方法及系统，涉及芯片测试技术领域，包括，组装芯片测试子板，将多颗待测芯片装载于芯片装载区，配置开关矩阵、译码器和激活控制单元，生成芯片映射矩阵；选择单颗芯片进行高温操作生命期测试，实时监控芯片功耗稳定性，计算芯片功耗偏差；执行逻辑功能测试、时序测试和多通道电压输出测试，评估输出一致性，生成芯片功能测试数据；基于芯片功耗偏差和芯片功能测试数据，采用熵基风险评估法，计算待测芯片的失效概率，通过构建失效机制决策模型分析失效概率分布，对待测芯片的功耗稳定性测试和功能测试进行优化。本发明通过三维矩阵运算，生成芯片映射矩阵，减少了测试配置的时间和复杂度。