基于大模型多智能体的量子软件缺陷检测方法及相关装置

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基于大模型多智能体的量子软件缺陷检测方法及相关装置
申请号:CN202511300844
申请日期:2025-09-11
公开号:CN120821670A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于大模型多智能体的量子软件缺陷检测方法及相关装置,涉及计算机软件测试技术领域,该方法通过基于大语言模型驱动的多智能体协同实现量子软件缺陷高效检测,先由初步缺陷判断、抽象语法树、框架分类智能体,对待检测量子软件代码提取辅助信息,生成多维辅助数据;再由大语言模型驱动静态分析整合智能体,依框架类型动态调用对应量子软件静态分析工具,提取缺陷相关的结构化告警信息;最后基于多维辅助数据与结构化告警信息,通过量子领域、缺陷预测、缺陷验证及缺陷评估智能体进行链式推理,生成结构化缺陷报告。该方法有效解决传统静态工具适配单一、大型语言模型量子知识不足、多源信息孤立等问题,保障缺陷判定准确性与报告可解释性。
技术关键词
软件缺陷检测方法 大语言模型 抽象语法树 软件静态分析 缺陷预测 框架 报告 软件缺陷检测系统 计算机软件测试技术 数据 处理器 动态 逻辑 生成电路 识别电路 计算机程序产品 加载系统 分析工具 计算机设备