一种TO220封装芯片检测分选装置及方法

一种TO220封装芯片检测分选装置及方法，属于封装测试技术，装置包括上轨道、第一图像采集器、下轨道、第二图像采集器等，上轨道设有合格通道；下轨道一端有出料板，出料板开设有两条推送槽，推送槽内均配合有沿竖直方向及出料板长度方向移动的竖拨杆，下轨道一端设有沿下轨道长度方向移动的推板和朝向推板推送方向的第二图像采集器。方法通过第一图像采集器的图样判断出偏斜引脚芯片，并让其通过合格通道不下落而继续沿上轨道输送，通过第二图像采集器的图样判断出起翘引脚芯片和正常引脚芯片，让起翘芯片直接通过导向的竖拨杆推出，通过下降竖拨杆后利用推板将正常引脚芯片推送到下轨道进行输送，实现自动检测并分选输出，提高自动化程度。