一种基于双射线系统的壁厚检测装置及方法

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一种基于双射线系统的壁厚检测装置及方法
申请号:CN202511334271
申请日期:2025-09-18
公开号:CN121026028A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及工业无损检测技术领域,具体涉及一种基于双射线系统的壁厚检测装置及方法,通过双射线源同步拍摄管材的竖直与水平方向投影图像;提取双方向投影图像的首行灰度数据,通过自动阈值法抓取边缘位置;根据边缘位置抓取管材内外壁拐点,共获取8个拐点;基于拐点位置使用数学模型计算管材内外径;根据内外径计算壁厚、椭圆度、偏心值及同心度;本发明实现了管材生产过程中的全检,检测效率高,且能抵抗管材轻微抖动影响,检测结果精准,适用于PVC管材、线缆等线形材料的壁厚及相关质量指标检测。
技术关键词
双射线源 X射线源 抓取管材 探测器 工业无损检测技术 数据处理单元 数学模型 内外壁 坐标系 同心度 圆心 频率同步 信号 图像处理 偏心