矩形芯片反面检测方法、系统、设备及介质

矩形芯片反面检测方法、系统、设备及介质，涉及集成电路检测领域。本申请是为了解决现有对芯片表面质量的检测方法存在收敛速度慢、易陷入局部最优的问题。本申请采集被测芯片的图像作为目标图像并提取边缘图像；计算目标图像中芯片轮廓的最小外接矩形，以该最小外接矩形的主轴方向角为中心在预设角度区间内生成多个候选模板图像；使用改进的灰狼优化算法搜索与目标图像相似度最大的候选模板图像作为最优模板图像；利用最优模板图像生成标记图像，对标记图像和边缘图像进行按位与运算，获得有效矩形字符边缘区域，在有效矩形字符边缘区域中提取有效轮廓图片；筛选有效轮廓图片中的字符轮廓，若字符轮廓数量大于阈值，则被测芯片为反面。