摘要
本发明公开了一种离型膜生产检测方法及系统,涉及离型膜性能检测领域。包括硬件实体终端以及软件控制平台;通过高分辨率成像可清晰捕捉硅油涂布的微观厚度变化,确保检测灵敏度,另外采用了双光源方案(白光+紫外)增强涂布不均的光学对比度;5°倾斜安装避免镜面反射干扰,确保图像质量稳定;在算法层面通过FFT频域分析+高频能量占比阈值,实现客观、量化缺陷判定。且在判断的过程中噪声抑制(高斯滤波)保留关键纹理,避免误判。通过ROI提取排除边缘干扰,提高分析准确性。通过灰度归一化消除光照不均影响,增强算法鲁棒性。解决现有技术中直接检测法或间接检测法存在的反馈不及时以及受多种因素干扰导致的无法直接对应涂布量的问题。