一种共面电容传感器缺陷检出能力评估方法

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一种共面电容传感器缺陷检出能力评估方法
申请号:CN202511369121
申请日期:2025-09-24
公开号:CN120874399B
公开日期:2025-12-16
类型:发明专利
摘要
本发明属于非金属材料无损检测技术领域,尤其涉及一种共面电容传感器缺陷检出能力评估方法。该缺陷检出能力评估方法,通过对不同埋藏深度、尺寸下缺陷进行扫描并计算检测信号的畸变率,给出预定阈值判断缺陷是否检出;而后绘制可视化图表,实现对共面电容传感器缺陷检出极限能力的评估。一种共面电容传感器缺陷检出能力评估方法包括有:确定共面电容传感器的正灵敏度区域、负灵敏度区域以及零灵敏度区域;构建得到非金属材料缺陷测试组;建立得到静电场仿真模型;对检测信号求畸变率D;绘制不同埋深位置以及不同缺陷尺寸下检测信号畸变率D的关系曲线;给定预定阈值A,记录对比结果;将对比结果绘制于可视化图表中。
技术关键词
电容传感器 能力评估方法 缺陷尺寸 非金属材料 可视化图表 仿真模型 无损检测技术 色块 判断缺陷 检测盲区 信号 关系 颜色 曲线 代表 稳态 参数 黑色 成像