测试板上下料装置和芯片老化测试系统

本发明公开了一种测试板上下料装置，用于在载盘和测试盘之间转移芯片，包括机架、料仓、钩盘机构和移料机构，所述机架上设置有工作台，所述料仓安装于所述机架，用于存储载盘，所述钩盘机构安装于所述机架，用于将测试板转移至所述工作台上，所述移料机构安装于所述机架，用于将待测芯片在载盘和测试板之间转移。本发明的测试板上下料装置可自动将待测芯片装载至老化测试板，以及将测试完成的芯片由老化测试板转移至载板，大大减少了芯片装配时间，提高了检测效率。