一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法
申请号:CN202511382946
申请日期:2025-09-26
公开号:CN120876218B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法,涉及显微图像处理领域。解决了现有的亚像素配准技术依赖迭代优化或复杂形变模型,难以实时处理;传感器采样误差与机械平移误差需通过高分辨率相机或精密位移台补偿,系统成本高昂等问题。本发明通过亚像素级偏移补偿,无需依赖高精度位移台即可实现亚像素对齐,显著降低硬件成本。本发明所述方法利用边缘检测算法提取图像边缘特征点,拟合灰度质心计算亚像素偏移量,统计平均偏移量;根据平均偏移量生成仿射变换矩阵,并对图像进行重采样,将像素值对齐至整数坐标网格;最后根据插值算法类型裁剪图像边缘,消除虚影。本发明还适用于荧光显微镜多视野拼接、超分辨重建等应用领域。
技术关键词
对齐方法
插值算法
特征点
特征提取算法
边缘检测算法
坐标
图像边缘特征
矩阵
多项式核函数
高分辨率相机
精密位移台
双三次插值
像素点
稳健特征
梯度直方图
配准技术
平移误差
荧光显微镜