虚实叠加精度测试方法、系统及存储介质

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虚实叠加精度测试方法、系统及存储介质
申请号:CN202511403754
申请日期:2025-09-29
公开号:CN120909861A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种虚实叠加精度测试方法、系统及存储介质,涉及可穿戴技术领域。方法包括:控制待测头戴显示设备依次处于不同测试位姿;获取双相机采集待测头戴显示设备在测试位姿下所显示画面和标定板的图像得到的第一图像对,根据第一图像的虚实对中真实标记在相机坐标系下的第一空间位置和虚实对对应的参考虚实相对位姿,确定虚实对中的虚拟标记在相机坐标系下的参考空间位置,根据虚实对中的虚拟标记在相机坐标系下的第二空间位置和参考空间位置,确定待测头戴显示设备在测试位姿下对应于相机的虚实叠加精度测试结果;根据待测头戴显示设备在不同测试位姿下对于双相机的虚实叠加精度测试结果,确定待测头戴显示设备的虚实叠加精度测试结果。
技术关键词
头戴显示设备 相机 精度测试方法 图像 坐标系 标记 精度测试系统 画面 可穿戴技术 机械臂 存储器 计算机 夹具 处理器 标定板 可读存储介质 指令 像素