数据质量验证方法、电子设备及存储介质

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数据质量验证方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202511416981
申请日期:2025-09-30
公开号:CN120892777A
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种数据质量验证方法、电子设备及存储介质,涉及数据质量自动化验证技术领域,包括:获取原始样本数据对应的探测子集;通过预设的模型对探测子集进行性能评估处理,确定探测子集对应的探测性能指标;根据探测子集对应的探测性能指标和预设的基准性能指标,判断原始样本数据是否存在数据质量缺陷;在原始样本数据存在数据质量缺陷的情形下,根据探测性能指标,从探测子集中确定出所述探测性能指标所对应的具有缺陷的部分子集,作为目标子集;根据目标子集的缺陷标签确定出原始样本数据的与缺陷标签对应的目标质量缺陷。本申请通过建立数据与模型表现之间的直接关联,有效提升了数据质量问题的验证准确性。
技术关键词
验证方法 样本 基准 自动化验证技术 数据画像 标签 电子设备 传播算法 列表 处理器 可读存储介质 存储器 策略 计算机 参数