MEMS加速度计离心测试结构、系统及方法

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MEMS加速度计离心测试结构、系统及方法
申请号:CN202511433162
申请日期:2025-10-09
公开号:CN120908483A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了MEMS加速度计离心测试结构、系统及方法,该结构包括离心转接工装、离心测试工装转台、测试转接工装、芯片测试板及多个夹具机构;该系统包括离心机转台和八个上述的MEMS加速度计离心测试结构;该方法适用于上述的MEMS加速度计离心测试系统中,实现加速度计芯片的测试及满量程标定,得到零偏、非线性度的指标,及对加速度计芯片交叉轴串扰评估;通过测试工装转台免拆卸实现加速度计满量程的正反向测试;十字形测试板配X、Y向夹具,可测X、Y、X‑Y双轴加速度计并评估交叉轴串扰,通用性强;夹具集成于电路板,防线缆损坏更安全;结构集成适配批量生产,夹具易安装且兼容多管壳尺寸,进一步提高试验效率。
技术关键词
芯片测试板 夹具机构 MEMS加速度计 测试转接工装 离心机 加速度计芯片 测试工装 转台 测试结构 外边框 测试点 测试方法 测试分析系统 管壳 双轴加速度计 非线性 十字形