一种带有极化诱导隧穿结的AlGaInP红光LED芯片结构及制备方法
申请号:CN202511450762
申请日期:2025-10-11
公开号:CN120936154B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种带有极化诱导隧穿结的AlGaInP红光LED芯片结构及制备方法,该芯片结构从下至上依次包括GaAs衬底、n型GaAs缓冲层、n型刻蚀阻挡层、n型GaAs欧姆接触层、n型限制层、非掺杂InGaP/量子阱结构、p型间隔层、p型AlGaInP极化诱导掺杂层、插入层及n型欧姆接触层;其中,p型AlGaInP极化诱导掺杂层通过Al组分渐变设计引入压电极化电场,诱导形成高密度二维空穴气,高Al组分插入层与n型欧姆接触层构成隧穿结;本发明从根本上解决了高Al组分AlGaInP材料p型掺杂效率低、电阻率高的问题,简化了外延结构与芯片工艺,使芯片串联电阻降低、发光效率提升、良率提升,具有显著的技术与商业价值。
技术关键词
欧姆接触层
刻蚀阻挡层
量子阱结构
GaAs衬底
金属有机化学气相沉积
MOCVD技术
间隔层
衬底上外延生长
二维空穴气
缓冲层
外延片
金属化
原子层沉积
p型掺杂
三甲基
芯片结构
硅烷
外延结构