一种多模态超分辨率引导的PCB缺陷检测方法

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一种多模态超分辨率引导的PCB缺陷检测方法
申请号:CN202511479966
申请日期:2025-10-16
公开号:CN120931664B
公开日期:2025-12-30
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多模态超分辨率引导的PCB缺陷检测方法,属于PCB缺陷检测技术领域。该方法通过超分辨率模块对低分辨率图像进行重建,该模块依次执行:利用DepthAnything模型生成深度图的多模态预处理、通过神经网络动态模拟退化过程的可学习退化建模、融合深度信息进行去噪的全变分重建、以及基于R3GAN的超分辨率生成;然后将高分辨率图像输入改进的RF‑DETR检测网络,通过动态递归精炼控制器(DRC)根据缺陷尺寸自适应调整精炼次数和特征层选择,显著提升了PCB微小缺陷的检测精度与效率。
技术关键词
缺陷检测方法 超分辨率 缺陷尺寸 彩色图像 多模态 融合深度信息 缺陷检测技术 生成深度图 网络 动态 控制器 像素 模块 检测头 多尺度 解码器 阶段