缺陷检测模型建立方法、装置、设备及缺陷检测方法

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缺陷检测模型建立方法、装置、设备及缺陷检测方法
申请号:CN202511504392
申请日期:2025-10-21
公开号:CN120976225A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种缺陷检测模型建立方法、装置、设备及缺陷检测方法。包括:获取晶圆图像;对晶圆图像进行数据预处理,以得到模型训练数据集;基于微缺陷增强与多尺度视野网络,对所述模型训练数据集进行处理,以获取缺陷专用特征;利用量子启发的稀疏特征重构网络,对缺陷专用特征进行量子态编码处理以及特征重构,以得到初始模型并生成初始模型的结果特征;采用动态聚焦微调损失函数,基于结果特征对所述初始模型进行优化,以得到检测模型。该缺陷检测模型建立方法能够大大降低缺陷检测的人力物力成本,提升了检测效率和识别准确率。
技术关键词
检测模型建立方法 专用特征 稀疏特征 缺陷检测方法 晶圆 量子态 数据 形态学滤波器 模型建立装置 编码 高层语义信息 多尺度特征提取 网络 动态 视野 重构模块 图像分割