测试失败根因的诊断方法

本发明公开了一种测试失败根因的诊断方法，涉及电数字数据处理技术领域，在捕捉到测试失败信号后，结合测试用例的多源日志信息和测试环境配置数据进行综合分析，以充分考虑环境配置对测试的影响，并充分挖掘日志中的信息，得到更加准确的诊断结果，进而根据测试失败根因匹配相应的解决方案，以解决测试失败的问题，因此，可以解决相关技术中人工分析的效率较低且误判概率较高，忽略了测试环境对测试失败的影响，难以识别日志中的文本之间的隐性联系，使得得到的分析结果难以用于进行准确的根因诊断的技术问题，进而提高测试失败根因的诊断效率，增加诊断精度，缩短整体测试周期。