一种融合色差分析和深度学习的Mura缺陷检测方法及系统
申请号:CN202511534805
申请日期:2025-10-27
公开号:CN121010592A
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种融合色差分析和深度学习的Mura缺陷检测方法及系统,涉及Mura缺陷检测技术领域,所述方法流程为:获取显示面板的无缺陷图像和Mura色不均缺陷图像;对Mura色不均缺陷图像进行标注,以构建带标注的缺陷图像数据集;基于缺陷图像数据集对深度学习模型进行有监督训练,以得到Mura缺陷检测模型;对无缺陷图像和Mura色不均缺陷图像进行色差值计算,基于色差值确定Mura色不均缺陷的色差阈值;基于Mura缺陷检测模型以及Mura色不均缺陷的色差阈值对待检测图像进行模型推理和预测,以得到Mura缺陷预测结果。本发明通过深度学习模型训练自动学习Mura缺陷特征,实现Mura缺陷的定位与分类;同时利用LAB色彩空间的色差分析作为辅助判定,提高了模型检测的智能化和适应性。
技术关键词
Mura缺陷
色差
缺陷检测方法
缺陷检测单元
置信度阈值
极值
图像获取单元
数据
深度学习模型训练
缺陷检测系统
对比度
面板
可读存储介质
处理器
滤波
计算机设备
通道
定义